影像测量系统
精密零件、电子元件尺寸及形状的高精度自动检测
计算机数控影像测量系统基于CCD相机捕获的图像实现非接触自动测量。正确检测工件的边界和点位确保准确测量。此外，TTL激光自动对焦可测量高度和截面轮廓。
影像测量系统的“NEXIV”系列运用长年来尼康开发的先进测量技术，准确进行边界测量。工厂需要在整个评估过程中对大量产品进行自动化快速精准的测量。尼康系统为大规模制造提供了强大后援，为保证注塑模具、机械零件、IC芯片和电子元件等产品的质量作出了贡献。
TTL激光自动对焦
TTL（镜头同轴）激光自动对焦利用激光束的反射来测量距离。激光束通过镜头投射到物件然后反射回系统。借助于这一创新开发，尼康系统可以在低倍率下准确检测狭小部位，测量复杂的3D立体形状。除此之外，如今可通过TTL激光自动对焦检测到透明物件的边界，由此VMZ-S系列亦可测量厚度低至0.1mm的样品，例如LCD保护膜。因为激光束的反射率很低，以往很难检测到这类物体的边界。
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